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环境试验产品
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高低温冲击试验箱
  
                    控制器主界面                                        曲线显示

  
                      低温测试1                                          低温测试2
                                                                    

产品功能特点
  • 能提供高低温突变的试验环境,供产品试验用;
  • 三相式,试品不移动;
  • 冲击方式:三温,二温选择;
  • 采用本公司最新专利技术,成倍提供制冷效率,特别节省电能;
  • 大屏幕彩色显示运行状态,人机对话,中英文选择;
  • 大容量程式设置,强大数据管理功能;
  • 自动除霜控制,保证长周期冲击运行。


产品主要用途

  • 电子零件,IC的高低温冲击试验;
  • 电路板,模块的高低温冲击;
  • 主要用于电工电子,汽车,航空航空,军工等行业;
  • 工业企业实验室,科研院所,高等学校,检测认证机构是我们的常客。


产品选型参数表

-40度机型参数表

型号 HGTS-31J HGTS-49J HGTS-80J HGTS-100J HGTS-150J HGTS-252J HGTS-450J
内尺寸HXWXD(cm) 30x35x30 35x40x35 40x50x40 50x50x40 50x60x50 60x70x60 75x80x75
高温箱最高温度 RT+200度
低温箱最低温度 -55度
冲击范围 -40~常温~150度
温度恢复时间 小于5分钟
温度波动 0.5度
温度均匀度 2度
冷却方式 风冷或水冷


-55度机型参数表 

型号 HGTS-31R HGTS-49R HGTS-80R HGTS-100R HGTS-150R HGTS-252R HGTS-450R
内尺寸HXWXD(cm) 30x35x30 35x40x35 40x50x40 50x50x40 50x60x50 60x70x60 75x80x75
高温箱最高温度 RT+200度
低温箱最低温度 -65度
冲击范围 -55~常温~150度
温度恢复时间 小于5分钟
温度波动 0.5度
温度均匀度 2度
冷却方式 风冷或水冷


-65度机型参数表 

型号 HGTS-31Z HGTS-49Z HGTS-80Z HGTS-100Z HGTS-150Z HGTS-252Z HGTS-450Z
内尺寸HXWXD(cm) 30x35x30 35x40x35 40x50x40 50x50x40 50x60x50 60x70x60 75x80x75
高温箱最高温度 RT+200度
低温箱最低温度 -75度
冲击范围 -65~常温~50度
温度恢复时间 小于5分钟
温度波动 0.5度
温度均匀度 2度
冷却方式 水冷
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