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环境试验产品
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高低温冲击试验箱
 
控制器主界面 曲线显示
 
低温测试1 低温测试2
产品功能特点
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能提供高低温突变的试验环境，供产品试验用；
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三相式，试品不移动；
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冲击方式：三温，二温选择；
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采用本公司最新专利技术，成倍提供制冷效率，特别节省电能；
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大屏幕彩色显示运行状态，人机对话，中英文选择；
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大容量程式设置，强大数据管理功能；
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自动除霜控制，保证长周期冲击运行。
产品主要用途
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电子零件，IC的高低温冲击试验；
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电路板，模块的高低温冲击；
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主要用于电工电子，汽车，航空航空，军工等行业；
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工业企业实验室，科研院所，高等学校，检测认证机构是我们的常客。
产品选型参数表
-40度机型参数表
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型号
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HGTS-31J
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HGTS-49J
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HGTS-80J
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HGTS-100J
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HGTS-150J
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HGTS-252J
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HGTS-450J
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内尺寸HXWXD(cm)
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30x35x30
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35x40x35
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40x50x40
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50x50x40
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50x60x50
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60x70x60
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75x80x75
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高温箱最高温度
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RT+200度
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低温箱最低温度
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-55度
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冲击范围
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-40~常温~150度
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温度恢复时间
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小于5分钟
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温度波动
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0.5度
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温度均匀度
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2度
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冷却方式
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风冷或水冷
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-55度机型参数表
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型号
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HGTS-31R
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HGTS-49R
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HGTS-80R
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HGTS-100R
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HGTS-150R
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HGTS-252R
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HGTS-450R
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内尺寸HXWXD(cm)
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30x35x30
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35x40x35
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40x50x40
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50x50x40
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50x60x50
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60x70x60
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75x80x75
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高温箱最高温度
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RT+200度
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低温箱最低温度
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-65度
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冲击范围
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-55~常温~150度
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温度恢复时间
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小于5分钟
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温度波动
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0.5度
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温度均匀度
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2度
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冷却方式
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风冷或水冷
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-65度机型参数表
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型号
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HGTS-31Z
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HGTS-49Z
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HGTS-80Z
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HGTS-100Z
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HGTS-150Z
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HGTS-252Z
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HGTS-450Z
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内尺寸HXWXD(cm)
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30x35x30
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35x40x35
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40x50x40
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50x50x40
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50x60x50
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60x70x60
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75x80x75
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高温箱最高温度
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RT+200度
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低温箱最低温度
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-75度
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冲击范围
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-65~常温~50度
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温度恢复时间
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小于5分钟
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温度波动
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0.5度
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温度均匀度
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2度
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冷却方式
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水冷
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